Electrical characterization of MS and MIS structures on AlGaN/AlN/GaN heterostructures


Creative Commons License

Arslan E., Bütün S., Afak Y., Uslu H. , Tascioglu I., ALTINDAL Ş., et al.

Microelectronics Reliability, cilt.51, ss.370-375, 2011 (SCI İndekslerine Giren Dergi)

  • Cilt numarası: 51 Konu: 2
  • Basım Tarihi: 2011
  • Doi Numarası: 10.1016/j.microrel.2010.08.022
  • Dergi Adı: Microelectronics Reliability
  • Sayfa Sayısı: ss.370-375