The interface states and series resistance effects on the forward and reverse bias I-V, C-V and G/ω-V characteristics of Al-TiW-Pd 2Si/n-Si Schottky barrier diodes

Uslu H. , ALTINDAL Ş., Aydemir U., DÖKME İ., Afandiyeva I.

Journal of Alloys and Compounds, cilt.503, ss.96-102, 2010 (SCI İndekslerine Giren Dergi) identifier identifier

  • Cilt numarası: 503 Konu: 1
  • Basım Tarihi: 2010
  • Doi Numarası: 10.1016/j.jallcom.2010.04.210
  • Dergi Adı: Journal of Alloys and Compounds
  • Sayfa Sayıları: ss.96-102