A comparative electric and dielectric properties of Al/p-Si structures with undoped and Co-doped interfacial PVA layer


Kaya A., Yücedaʇ I., Tecimer H. , ALTINDAL Ş.

Materials Science in Semiconductor Processing, cilt.28, ss.26-30, 2014 (SCI İndekslerine Giren Dergi) identifier identifier

  • Cilt numarası: 28
  • Basım Tarihi: 2014
  • Doi Numarası: 10.1016/j.mssp.2014.03.015
  • Dergi Adı: Materials Science in Semiconductor Processing
  • Sayfa Sayıları: ss.26-30